一種待測設備批量測試方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010728865.5 申請日 -
公開（公告）號 CN111856198A 公開（公告）日 2020-10-30
申請公布號 CN111856198A 申請公布日 2020-10-30
分類號 G01R31/01(2020.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 周軍軍;周武林;鄧飛龍;李新光;曾華斌;王志林 申請（專利權）人 江西聯(lián)智集成電路有限公司
代理機構 中科專利商標代理有限責任公司 代理人 江西聯(lián)智集成電路有限公司
地址 330096江西省南昌市高新技術產業(yè)開發(fā)區(qū)創(chuàng)新一路59號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種待測設備批量測試方法及系統(tǒng)，包括：S11，向一主板發(fā)送使之成為主機的指令，該主機向其他主板發(fā)送使之成為從機的指令，其中，各主板用于采集至少一個待測設備的測試數(shù)據，各主板之間通過總線通信連接；S12，從主機獲取各主板采集的測試數(shù)據，其中，每個從機采集的測試數(shù)據通過總線發(fā)送至主機；S13，對測試數(shù)據進行處理及分析。本發(fā)明提供的方法能夠大批量地測試設備成品，確保成品的出廠品質和安全，同時能提高測試效率、降低測試成本。??