一種芯片的固件完整性檢測(cè)方法及系統(tǒng)
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202010625204.X | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN111782531A | 公開(kāi)（公告）日 | 2020-10-16 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN111782531A | 申請(qǐng)公布日 | 2020-10-16 |
| 分類(lèi)號(hào) | G06F11/36(2006.01)I | 分類(lèi) | 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù); |
| 發(fā)明人 | 周武林;周軍軍;李新光;韓丞俊 | 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人 | 江西聯(lián)智集成電路有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 中科專(zhuān)利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 | 代理人 | 江西聯(lián)智集成電路有限公司 |
| 地址 | 330096江西省南昌市高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開(kāi)發(fā)區(qū)創(chuàng)新一路59號(hào) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明提供一種芯片的固件完整性檢測(cè)方法及系統(tǒng)，本方法包括：S1，將固件發(fā)送至芯片(200)中；S2，獲取第一校驗(yàn)結(jié)果和第二校驗(yàn)結(jié)果，其中，第一校驗(yàn)結(jié)果由本地對(duì)固件進(jìn)行校驗(yàn)而產(chǎn)生，第二校驗(yàn)結(jié)果由芯片(200)對(duì)固件進(jìn)行校驗(yàn)而產(chǎn)生；S3，根據(jù)第一校驗(yàn)結(jié)果和第二校驗(yàn)結(jié)果判斷固件是否成功下載到芯片(200)中。本發(fā)明提供的方法能夠縮短芯片(200)的固件讀取的時(shí)間，加快固件數(shù)據(jù)完整性確認(rèn)的速度。?? |
