電路板的雙面外觀檢測方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110156119.8 申請日 -
公開（公告）號 CN112945986A 公開（公告）日 2021-06-11
申請公布號 CN112945986A 申請公布日 2021-06-11
分類號 G01N21/956;G01N21/01 分類 測量；測試;
發(fā)明人 楊海濤;郭東升 申請（專利權(quán)）人 鼎勤科技（深圳）有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳市中科創(chuàng)為專利代理有限公司 代理人 彭濤;馮建華
地址 518000 廣東省深圳市寶安區(qū)新橋街道萬豐社區(qū)大洋田工業(yè)區(qū)45棟101-201
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及電路板檢測技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種電路板的雙面外觀檢測方法，包括如下步驟：步驟S 1：拍攝并獲取電路板的第一面與第二面的圖像數(shù)據(jù)；步驟S2：對第一面的圖像數(shù)據(jù)獲取特定位置的第一報(bào)點(diǎn)及對第二面的圖像數(shù)據(jù)獲取特定位置的第二報(bào)點(diǎn)；步驟S3：對第一報(bào)點(diǎn)進(jìn)行外觀缺陷判定，以確定第一報(bào)點(diǎn)為第一NG點(diǎn)或第一待確認(rèn)點(diǎn)及對第二報(bào)點(diǎn)進(jìn)行外觀缺陷判定，以確定第二報(bào)點(diǎn)為第二NG點(diǎn)或第二待確認(rèn)點(diǎn)；步驟S4：記錄并提取第一NG點(diǎn)及第一待確認(rèn)點(diǎn)的坐標(biāo)以及記錄并提取第二NG點(diǎn)及第二待確認(rèn)點(diǎn)的坐標(biāo)；步驟S5：復(fù)檢。本發(fā)明的電路板的雙面外觀檢測方法有利于降低錯檢、漏檢的概率，具有較高的自動化程度，有利于減少工作人員的工作任務(wù)。