閃存電路的仿真方法及仿真裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201710725634.7 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN107679266A 公開（公告）日 2018-02-09
申請(qǐng)公布號(hào) CN107679266A 申請(qǐng)公布日 2018-02-09
分類號(hào) G06F17/50;G06F11/263 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 馬亮;李迪;刁靜;劉大海;張亦鋒;王曉廉 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 珠海泓芯科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京成創(chuàng)同維知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 蔡純;張靖琳
地址 519080 廣東省珠海市高新區(qū)大學(xué)路清華科技園A座0222號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請(qǐng)公開了一種自動(dòng)驗(yàn)證的閃存電路仿真方法及裝置。該仿真方法包括：配置多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)及其容限；執(zhí)行所述閃存電路的電路仿真，以獲得多個(gè)仿真參數(shù)的仿真結(jié)果；將所述多個(gè)仿真參數(shù)與所述多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)進(jìn)行自動(dòng)對(duì)比，以獲得異常參數(shù)；以及將所述異常參數(shù)寫入警告文件。該閃存電路仿真方法及裝置可以進(jìn)行仿真結(jié)果的自動(dòng)校驗(yàn)，為工程師分擔(dān)了大量的檢查工作，簡(jiǎn)化了校驗(yàn)程序，提高了仿真驗(yàn)證效率。