一種光學(xué)器件平面45度角度檢測裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201821091134.9 申請日 -
公開（公告）號(hào) CN208350334U 公開（公告）日 2019-01-08
申請公布號(hào) CN208350334U 申請公布日 2019-01-08
分類號(hào) G01M11/02 分類 測量；測試;
發(fā)明人 謝燕;萬祥;童嚴(yán);時(shí)堯成;戴道鋅;劉勇 申請（專利權(quán)）人 蘇州天步光電技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 215500 江蘇省蘇州市常熟高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū)匯金三路東東南會(huì)1號(hào)樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開了一種光學(xué)器件平面45度角度檢測裝置，包括裝置主體、激光光源、可調(diào)光源固定架、器件固定平臺(tái)、角度檢測區(qū)；所述激光光源為檢測輸入光，通過可調(diào)光源固定架來調(diào)整輸入光的水平位置；所述器件固定平臺(tái)與激光光源為垂直狀態(tài)；所述角度檢測區(qū)為反射光呈現(xiàn)區(qū)。本實(shí)用新型一種光學(xué)器件平面45度角度檢測裝置，可應(yīng)用于光學(xué)器件在生產(chǎn)加工過程中的角度檢測，便于器件的后道耦合與封裝，提高光學(xué)器件耦合與封裝效率及良率，降低生產(chǎn)成本。