一種二維光纖陣列的測試方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201811638679.1 申請日 -
公開（公告）號 CN109580186A 公開（公告）日 2019-04-05
申請公布號 CN109580186A 申請公布日 2019-04-05
分類號 G01M11/02（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 謝燕; 萬祥; 童嚴; 時堯成; 戴道鋅 申請（專利權(quán)）人 蘇州天步光電技術(shù)有限公司
代理機構(gòu) 蘇州誠逸知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 蘇州天步光電技術(shù)有限公司
地址 215500 江蘇省蘇州市常熟高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū)匯金三路東東南會1號樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種二維光纖陣列的測試方法，具體步驟包括：A、測試出非二維光纖陣列輔助測試結(jié)構(gòu)的光學(xué)損耗M1；B、使用六維高精度調(diào)節(jié)架與插回損測試儀將非二維光纖陣列輔助測試結(jié)構(gòu)與二維光纖陣列進行對準測試，得出光纖陣列的組合光學(xué)損耗M2；C、將上述步驟得出的光學(xué)損耗M2減去M1可計算出其中的二維光纖陣列的損耗M3，根據(jù)M3值的大小范圍來判斷二維光纖陣列是否滿足使用要求，達到二維光纖陣列在應(yīng)用前的性能判別要求。通過上述方式，本發(fā)明二維光纖陣列的測試方法可適用于各種型號規(guī)格的二維光纖陣列測試，能夠有效檢測二維光纖陣列光學(xué)損耗，提前篩選二維光纖陣列的數(shù)據(jù)范圍，減少應(yīng)用過程中的耦合時間及匹配誤差，提高耦合效率。