一種二維光纖陣列的測(cè)試方法
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201811638679.1 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN109580186A | 公開（公告）日 | 2019-04-05 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN109580186A | 申請(qǐng)公布日 | 2019-04-05 |
| 分類號(hào) | G01M11/02（2006.01）I | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 謝燕; 萬祥; 童嚴(yán); 時(shí)堯成; 戴道鋅 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 蘇州天步光電技術(shù)有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 蘇州誠逸知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（特殊普通合伙） | 代理人 | 蘇州天步光電技術(shù)有限公司 |
| 地址 | 215500 江蘇省蘇州市常熟高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū)匯金三路東東南會(huì)1號(hào)樓 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明公開了一種二維光纖陣列的測(cè)試方法，具體步驟包括：A、測(cè)試出非二維光纖陣列輔助測(cè)試結(jié)構(gòu)的光學(xué)損耗M1；B、使用六維高精度調(diào)節(jié)架與插回?fù)p測(cè)試儀將非二維光纖陣列輔助測(cè)試結(jié)構(gòu)與二維光纖陣列進(jìn)行對(duì)準(zhǔn)測(cè)試，得出光纖陣列的組合光學(xué)損耗M2；C、將上述步驟得出的光學(xué)損耗M2減去M1可計(jì)算出其中的二維光纖陣列的損耗M3，根據(jù)M3值的大小范圍來判斷二維光纖陣列是否滿足使用要求，達(dá)到二維光纖陣列在應(yīng)用前的性能判別要求。通過上述方式，本發(fā)明二維光纖陣列的測(cè)試方法可適用于各種型號(hào)規(guī)格的二維光纖陣列測(cè)試，能夠有效檢測(cè)二維光纖陣列光學(xué)損耗，提前篩選二維光纖陣列的數(shù)據(jù)范圍，減少應(yīng)用過程中的耦合時(shí)間及匹配誤差，提高耦合效率。 |
