一種用于高純灰分測試防污染的機構

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202123320116.8 申請日 -
公開（公告）號 CN216747504U 公開（公告）日 2022-06-14
申請公布號 CN216747504U 申請公布日 2022-06-14
分類號 G01N23/223（2006.01）I;G01N23/2202（2018.01）I;G01N1/44（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 楊輝;徐建平;毛玉珍 申請（專利權）人 賽邁科先進材料股份有限公司
代理機構 杭州西木子知識產權代理事務所（特殊普通合伙） 代理人 -
地址 313100浙江省湖州市雉城鎮(zhèn)中鋼大道9號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型涉及一種用于高純灰分測試防污染的機構，包括坩堝，還包括套設在所述坩堝外的籠罩組件；所述籠罩組件包括位于所述坩堝上方的遮蓋件以及用于支撐所述遮蓋件的支撐件。本實用新型通過設置籠罩組件，進而將坩堝上端與空氣之間進行隔離，利用籠罩組件配合試驗中的坩堝起到防護作用，避免外部環(huán)境帶入的灰分融入材料本身的灰分內，造成含量過高，對數(shù)據(jù)影響的因素過多，提高試驗結果的真實性，從而解決了目前灰分測試，沒有特定防護裝置，測試過程粗獷，不嚴謹，對數(shù)據(jù)影響的因素太多，造成試驗結果的失真。特別是高純度材料的灰分測定，外部環(huán)境帶入的灰分可能比材料本身的灰分含量還高的技術問題。