測(cè)試方法、裝置、電子設(shè)備及介質(zhì)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202111122812.X 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN113836021A 公開（公告）日 2021-12-24
申請(qǐng)公布號(hào) CN113836021A 申請(qǐng)公布日 2021-12-24
分類號(hào) G06F11/36（2006.01）I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 張志文;郭文平 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 昆侖芯（北京）科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京市漢坤律師事務(wù)所 代理人 姜浩然;吳麗麗
地址 100086北京市海淀區(qū)上地十街10號(hào)百度大廈
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本公開提供了一種測(cè)試方法、裝置、電子設(shè)備及介質(zhì)，涉及計(jì)算機(jī)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及芯片領(lǐng)域。實(shí)現(xiàn)方案為：響應(yīng)于測(cè)試數(shù)據(jù)集中包括多個(gè)具有相同的第一序列的第一測(cè)試數(shù)據(jù)，將多個(gè)第一測(cè)試數(shù)據(jù)中的每一個(gè)第一測(cè)試數(shù)據(jù)劃分為第一序列和除第一序列以外的第二序列；基于第一序列，利用第一測(cè)試系統(tǒng)執(zhí)行對(duì)待測(cè)試對(duì)象的測(cè)試以得到第一中間測(cè)試數(shù)據(jù)；以及針對(duì)多個(gè)第一測(cè)試數(shù)據(jù)中的每一個(gè)第一測(cè)試數(shù)據(jù)，基于第一中間測(cè)試數(shù)據(jù)和該第一測(cè)試數(shù)據(jù)的第二序列，利用第二測(cè)試系統(tǒng)執(zhí)行對(duì)待測(cè)試對(duì)象的測(cè)試以得到最終測(cè)試結(jié)果。