一種提高超聲波無損探傷釬著率準確度的方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201510483096.6 申請日 -
公開（公告）號 CN105044214B 公開（公告）日 2018-05-25
申請公布號 CN105044214B 申請公布日 2018-05-25
分類號 G01N29/06 分類 測量；測試;
發(fā)明人 葉連慧;裘揆;陳樂生 申請（專利權）人 上海和伍精密儀器股份有限公司
代理機構 - 代理人 -
地址 200240 上海市閔行區(qū)劍川路953弄322號一樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種提高超聲波無損探傷釬著率準確度的方法，步驟：進行超聲波無損探傷C掃描圖像識別；將整個C掃描圖像進行灰度處理；根據(jù)每個掃描點的像素值，計算整個焊接層區(qū)域的釬著率。本發(fā)明無需考慮釬著率閾值，只考慮每個點的像素值對釬著率的貢獻，大大提高了釬著率的計算準確度，杜絕了將合格零件誤判為超差品或者將超差品誤判為合格品的誤判問題，避免了浪費，消除了安全隱患。