一種礦物自動分析系統(tǒng)中自動獲取X射線分析位置的計算方法
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN202010162097.1 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN111398323A | 公開（公告）日 | 2020-07-10 |
| 申請公布號 | CN111398323A | 申請公布日 | 2020-07-10 |
| 分類號 | G01N23/203(2006.01)I | 分類 | - |
| 發(fā)明人 | 郝爽;皮曉宇 | 申請（專利權）人 | 浙江中科銳晨智能科技有限公司 |
| 代理機構 | 北京棘龍知識產(chǎn)權代理有限公司 | 代理人 | 浙江中科銳晨智能科技有限公司 |
| 地址 | 314006浙江省嘉興市南湖區(qū)大橋鎮(zhèn)亞太路1352號7號樓 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明涉及一種礦物自動分析系統(tǒng)中自動獲取X射線分析位置的計算方法，所述計算方法包括采集背散射電子成像圖像、查找礦物顆粒、在礦物顆粒上進行區(qū)域分析、計算X射線分析位置等步驟。本發(fā)明的計算方法結合BSE圖像的特征對顆粒進行位置選擇，選擇的分析區(qū)域定位準確，測量結果準確。?? |
