固態(tài)硬盤的測試方法、裝置和系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110730766.5 申請日 -
公開（公告）號 CN113257334B 公開（公告）日 2021-10-15
申請公布號 CN113257334B 申請公布日 2021-10-15
分類號 G11C29/56（2006.01）I 分類 信息存儲;
發(fā)明人 朱琳琳;劉小波;梁燦 申請（專利權(quán)）人 四川微巨芯科技有限公司
代理機構(gòu) 北京細軟智谷知識產(chǎn)權(quán)代理有限責任公司 代理人 劉明華
地址 610000四川省成都市中國（四川）自由貿(mào)易試驗區(qū)成都高新區(qū)天華二路219號11棟23層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種固態(tài)硬盤的測試方法、裝置和系統(tǒng)，方法包括：對預(yù)先配置的測試設(shè)備配置數(shù)據(jù)和測試用例配置數(shù)據(jù)進行參數(shù)解析，得到測試設(shè)備信息和測試用例信息；對與測試設(shè)備相連的所有已連接硬盤初始化處理，得到待測試硬盤；生成每個待測試硬盤對應(yīng)的測試線程；利用測試用例信息中的所有測試用例，通過每個待測試硬盤對應(yīng)的測試線程對待測試硬盤進行測試，得到測試用例與待測試硬盤的測試關(guān)系信息和每個測試用例對應(yīng)的測試執(zhí)行信息，從而生成每個待測試硬盤對應(yīng)的測試報告。本方案每個測試設(shè)備可連接多個待測試硬盤，每個待測試硬盤均設(shè)有對應(yīng)的測試線程，各個待測試硬盤可利用各自的測試線程同時測試，節(jié)約測試成本，提高固態(tài)硬盤的測試效率。