一種具備開關(guān)電路的CAF測試板

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201610008297.5 申請日 -
公開（公告）號 CN105467172B 公開（公告）日 2019-05-21
申請公布號 CN105467172B 申請公布日 2019-05-21
分類號 G01R1/04（2006.01）I; G01R31/01（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張智暢; 陳蓓; 胡夢海 申請（專利權(quán)）人 廣州市興森電子有限公司
代理機構(gòu) 廣州市越秀區(qū)哲力專利商標(biāo)事務(wù)所（普通合伙） 代理人 廣州興森快捷電路科技有限公司; 深圳市興森快捷電路科技股份有限公司; 廣州市興森電子有限公司
地址 510663 廣東省廣州市廣州高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū)科學(xué)城光譜中路33號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種具備開關(guān)電路的CAF測試板，包括測試基板，測試基板上設(shè)有正極測試端、負(fù)極測試端、至少兩組測試孔組、開關(guān)電路以及與測試孔組數(shù)量相等的定位焊盤組，開關(guān)電路位于相鄰測試孔組之間，各測試孔組的正極通過開關(guān)電路并聯(lián)后連接至正極測試端，各測試孔組的負(fù)極并聯(lián)后連接至負(fù)極測試端；每組測試孔組包括間隔排列的多個測試對孔，每組定位焊盤組包括沿直線間隔排列的多個失效分析定位焊盤，各失效分析定位焊盤位于測試孔組一側(cè)并與測試對孔一一對應(yīng)連接。本發(fā)明能提高CAF性能測試效率及失效分析效率。