一種電容式觸控按鍵的檢測方法和檢測裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201810327300.9 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN110380715B 公開（公告）日 2021-11-23
申請(qǐng)公布號(hào) CN110380715B 申請(qǐng)公布日 2021-11-23
分類號(hào) H03K17/96（2006.01）I 分類 基本電子電路;
發(fā)明人 程君健;陳家樂 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 深圳市賽元微電子股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 代理人 駱希聰
地址 518057廣東省深圳市南山區(qū)高新區(qū)南區(qū)粵興三道8號(hào)中國地質(zhì)大學(xué)產(chǎn)學(xué)研基地中地大樓B610
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明適用于電容式觸控按鍵的檢測方法和檢測裝置，所述檢測方法包括以下步驟：獲取預(yù)設(shè)的第一電容矩陣和預(yù)設(shè)的第一電容均值矩陣；檢測當(dāng)n個(gè)電容觸控按鍵中其中一個(gè)按鍵按下時(shí)n個(gè)電容觸控按鍵的分布電容變化量，并根據(jù)檢測到所述n個(gè)電容觸控按鍵的分布電容變化量，得到第二電容矩陣；根據(jù)第二電容矩陣的平均值，得到第二電容均值；根據(jù)預(yù)設(shè)的第一電容矩陣、預(yù)設(shè)的第一電容均值矩陣、第二電容矩陣和第二電容均值，得到相關(guān)系數(shù)矩陣R，其中，相關(guān)系數(shù)矩陣R包括每個(gè)按鍵的相關(guān)系數(shù)r；根據(jù)相關(guān)系數(shù)矩陣R中每個(gè)按鍵的相關(guān)系數(shù)r，得到相關(guān)系數(shù)的最大值，并當(dāng)相關(guān)系數(shù)的最大值大于預(yù)設(shè)閾值時(shí)，判斷相關(guān)系數(shù)的最大值對(duì)應(yīng)的按鍵為被按下的按鍵。