圖像過優(yōu)化自動糾正方法以及裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110758577.9 申請日 -
公開（公告）號 CN113435445A 公開（公告）日 2021-09-24
申請公布號 CN113435445A 申請公布日 2021-09-24
分類號 G06K9/32（2006.01）I;G06K9/46（2006.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 陳鏗帆;劉善果;盧煬 申請（專利權）人 深圳市鷹碩技術有限公司
代理機構(gòu) 深圳余梅專利代理事務所（特殊普通合伙） 代理人 陳余才
地址 518000廣東省深圳市寶安區(qū)新安街道興東社區(qū)留仙三路6號鴻威工業(yè)區(qū)廠房D棟301
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本公開是關于一種圖像過優(yōu)化自動糾正方法、裝置、電子設備以及存儲介質(zhì)。其中，該方法包括：檢測待優(yōu)化圖像中的第一特征區(qū)域，查找與所述第一特征區(qū)域相交的第二特征區(qū)域，并保存相交區(qū)域的圖像特征；根據(jù)預設算法對所述第一特征區(qū)域進行圖像優(yōu)化處理，生成優(yōu)化后的優(yōu)化圖像；在所述優(yōu)化后的優(yōu)化圖像中查找優(yōu)化后的第二特征區(qū)域，并與所述第二特征區(qū)域?qū)Ρ龋蝗羲鰞?yōu)化后的第二特征區(qū)域與所述第二特征區(qū)域不同，則將所述第二特征區(qū)域在所述優(yōu)化后的優(yōu)化圖像中還原，生成糾正過優(yōu)化的圖像。本公開通過對用戶待優(yōu)化圖像的特征檢測，實現(xiàn)了對特定特征的過優(yōu)化效果的還原，提升了用戶體驗。