一種用于元器件測試的高頻測試裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202120111813.3 申請日 -
公開（公告）號 CN214097577U 公開（公告）日 2021-08-31
申請公布號 CN214097577U 申請公布日 2021-08-31
分類號 G01R1/04（2006.01）I;B07C5/344（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 王洪洋;洪世勛 申請（專利權）人 深圳飛特爾科技有限公司
代理機構 北京孚睿灣知識產權代理事務所（普通合伙） 代理人 劉翠芹
地址 518102廣東省深圳市寶安區(qū)西鄉(xiāng)街道勞動社區(qū)名優(yōu)采購中心B座3區(qū)3層333室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型提供一種用于元器件測試的高頻測試裝置，其包括測試板、固定件、微帶線以及金屬彈片，固定件為長方體結構，固定件固定在測試板上，金屬彈片借助于固定件固定在測試板上形成金屬探測針，金屬彈片設置有兩個；兩個金屬彈片的第一端部借助于固定件固定在微帶線上，微帶線固定在測試板上，兩個金屬彈片的第二個端部能夠相對于測試板壓下或彈起，與兩個金屬彈片的第二端部相對于的測試板的位置固定有待測物品，當兩個金屬彈片的第二端壓下時，兩個金屬彈片的第二端與待測物品接觸。其利用彈片結構代替?zhèn)鹘y(tǒng)的導電膠結構，具有較高的強度、耐受度和穩(wěn)定性，并且具有測試效果好，測試精度高的優(yōu)點。