一種非易失性存儲陣列的軟錯誤檢測方法及裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111079679.4 申請日 -
公開（公告）號 CN113791737A 公開（公告）日 2021-12-14
申請公布號 CN113791737A 申請公布日 2021-12-14
分類號 G06F3/06（2006.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 王碧;王昭昊;趙巍勝;趙元富;王亮;陳雷 申請（專利權(quán)）人 北京微電子技術(shù)研究所
代理機構(gòu) 北京三友知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 周永君;葉明川
地址 100191北京市海淀區(qū)學(xué)院路37號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種非易失性存儲陣列的軟錯誤檢測方法及裝置，所述方法包括：獲取第一存儲單元的存儲狀態(tài)和對應(yīng)的第二存儲單元的存儲狀態(tài)；若判斷獲知所述第一存儲單元的存儲狀態(tài)與對應(yīng)的第二存儲單元的存儲狀態(tài)相同，則終止讀取操作；其中，所述第一存儲單元與對應(yīng)的第二存儲單元是物理隔離的。所述裝置用于執(zhí)行上述方法。本發(fā)明實施例提供的非易失性存儲陣列的軟錯誤檢測方法及裝置，避免讀取錯誤數(shù)據(jù)，提高了非易失性存儲陣列的可靠性。