一種基于檢測依據的磁探儀探測寬度預報模型及求解方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202110292239.0 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113238289A | 公開(公告)日 | 2021-08-10 |
申請公布號 | CN113238289A | 申請公布日 | 2021-08-10 |
分類號 | G01V3/38(2006.01)I;G01V3/08(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 王豪 | 申請(專利權)人 | 北京軍懋國興科技股份有限公司 |
代理機構 | 西安智邦專利商標代理有限公司 | 代理人 | 汪海艷 |
地址 | 100070北京市豐臺區(qū)外環(huán)西路26號院65號樓1至6層1501(園區(qū)) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明提供一種基于檢測依據的磁探儀探測寬度預報模型及求解方法。為了克服現(xiàn)有方法獲得的磁探儀探測寬度值與磁探儀真實探測寬度差距較大的問題,本發(fā)明借鑒搜索論中搜索器材掃描寬度的定義,引入概率分布的思想,準確反映了各個影響因素變化對探測性能的影響,使得磁探儀探測寬度結果準確性顯著提升。 |
