集成電路測試座及集成電路測試裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202023275487.4 申請日 -
公開（公告）號 CN214375125U 公開（公告）日 2021-10-08
申請公布號 CN214375125U 申請公布日 2021-10-08
分類號 G01R31/28（2006.01）I;G01R1/04（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 程振;李志雄;劉旭;王平;燕祖德 申請（專利權(quán)）人 深圳市江波龍電子股份有限公司
代理機構(gòu) 深圳中一聯(lián)合知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 袁哲
地址 518000廣東省深圳市南山區(qū)科發(fā)路8號金融服務技術(shù)創(chuàng)新基地1棟8樓A、B、C、D、E、F1
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請屬于集成電路測試技術(shù)領域，尤其涉及一種集成電路測試座及集成電路測試裝置。該集成電路測試座中，基座的通孔內(nèi)設有導電組件，柔性板設于基座上并覆蓋通孔，柔性板具有與集成電路封裝件接點對應的導電體，柔性板的導電體與導電組件的彈性導電件一一對應地電性接觸。在測試時，將集成電路封裝件的接點與導電體對應電性接觸，并將彈性導電件與測試板的接點對應電性接觸。柔性板對導電組件起到保護作用，隔絕了集成電路封裝件接點及其它可能會帶來污染的物質(zhì)對彈性導電件的侵蝕，提升彈性導電件的壽命。該集成電路測試座兼具測試壽命長，測試頻率高，對集成電路封裝件接點傷害小，可完全替代彈簧頂針進行測試。