基于FT4222的SPI閃存測試系統(tǒng)及方法
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN201710853972.9 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN107633867B | 公開（公告）日 | 2018-01-26 |
| 申請公布號 | CN107633867B | 申請公布日 | 2018-01-26 |
| 分類號 | G11C29/56(2006.01)I;G11C29/04(2006.01)I | 分類 | 信息存儲; |
| 發(fā)明人 | 黃歡;施冠良 | 申請（專利權(quán)）人 | 南京揚賀揚微電子科技有限公司 |
| 代理機構(gòu) | 江蘇圣典律師事務(wù)所 | 代理人 | 南京揚賀揚微電子科技有限公司 |
| 地址 | 210000江蘇省南京市浦口區(qū)橋林街道步月路29號12棟-80 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明公開一種基于FT4222的SPI閃存測試系統(tǒng)及方法，該測試方法根據(jù)測試人員輸入的測試語句，調(diào)用調(diào)試工具中的FT4222芯片設(shè)備，針對不同參數(shù)的SPI NAND Flash模塊配置測試條件，最后將測試語句載入到FT4222芯片模塊對所述SPI NAND Flash模塊進行測試。該測試方法可以測試簡單的SPI NAND Flash的讀、寫、擦除、BurnIn test(穩(wěn)定性測試)，同時還可通過修改測試軟件程序代碼，達到一些特殊的測試目的。?? |
