基于FT4222的SPI閃存測(cè)試系統(tǒng)及方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201710853972.9 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN107633867A 公開(kāi)（公告）日 2018-01-26
申請(qǐng)公布號(hào) CN107633867A 申請(qǐng)公布日 2018-01-26
分類(lèi)號(hào) G11C29/56;G11C29/04 分類(lèi) 信息存儲(chǔ);
發(fā)明人 黃歡;施冠良 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人 南京揚(yáng)賀揚(yáng)微電子科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 江蘇圣典律師事務(wù)所 代理人 南京揚(yáng)賀揚(yáng)微電子科技有限公司
地址 210000 江蘇省南京市浦口區(qū)橋林街道步月路29號(hào)12棟-80
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開(kāi)一種基于FT4222的SPI閃存測(cè)試系統(tǒng)及方法，該測(cè)試方法根據(jù)測(cè)試人員輸入的測(cè)試語(yǔ)句，調(diào)用調(diào)試工具中的FT4222芯片設(shè)備，針對(duì)不同參數(shù)的SPI NAND Flash模塊配置測(cè)試條件，最后將測(cè)試語(yǔ)句載入到FT4222芯片模塊對(duì)所述SPI NAND Flash模塊進(jìn)行測(cè)試。該測(cè)試方法可以測(cè)試簡(jiǎn)單的SPI NAND Flash的讀、寫(xiě)、擦除、BurnIn test(穩(wěn)定性測(cè)試)，同時(shí)還可通過(guò)修改測(cè)試軟件程序代碼，達(dá)到一些特殊的測(cè)試目的。