一種控制器老化測(cè)試裝置
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202022261161.X | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN213276363U | 公開(公告)日 | 2021-05-25 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN213276363U | 申請(qǐng)公布日 | 2021-05-25 |
分類號(hào) | G05B23/02(2006.01)I | 分類 | - |
發(fā)明人 | 趙巖;杜佳棋;李開旭;孔春林;裘毅;丁澤坤;彭家鋒 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 杭州天明環(huán)保工程有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 徐麗 |
地址 | 310018浙江省杭州市經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)白楊街道11號(hào)(南)大街160號(hào)5幢 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本實(shí)用新型提供一種控制器老化測(cè)試裝置,包括控制箱和計(jì)算設(shè)備,所述控制箱、所述計(jì)算設(shè)備以及老化箱三者之間通訊連接;所述控制箱用以接收所述老化箱的控制器的驅(qū)動(dòng)信號(hào)并將所述驅(qū)動(dòng)信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)以判斷所述控制器是否正常運(yùn)行,所述計(jì)算設(shè)備用以通過串口讀取所述控制器的各測(cè)試點(diǎn)的控制器信號(hào)及控制箱信號(hào)并比較所述控制器信號(hào)與所述控制箱信號(hào)的數(shù)值大小、以判斷各測(cè)點(diǎn)性能及發(fā)出報(bào)警。本申請(qǐng)可以精準(zhǔn)地判斷出控制器各測(cè)點(diǎn)性能,測(cè)試過程受外部給定信號(hào)影響小,降低了極限高、低溫控制器的故障率,提高電源設(shè)備的運(yùn)行可靠性,降低現(xiàn)場(chǎng)運(yùn)維人員的工作量和維護(hù)成本。?? |
