一種用于IO自動測試平臺的開關(guān)量輸出校驗卡

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201821962495.6 申請日 -
公開（公告）號 CN209542778U 公開（公告）日 2019-10-25
申請公布號 CN209542778U 申請公布日 2019-10-25
分類號 G01R31/28（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 石友旺; 蔣杰; 王維建 申請（專利權(quán)）人 上海新華電子設(shè)備有限公司
代理機構(gòu) 上海旭誠知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 鄭立
地址 201100 上海市閔行區(qū)錦梅路1301號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種用于IO自動測試平臺的開關(guān)量輸出校驗卡，包括多通道開關(guān)量輸出模塊、FPGA、微處理器、電源模塊和通訊接口；多通道開關(guān)量輸出模塊的每一個通道輸出開關(guān)量校驗信號，實現(xiàn)對被測試電路的開關(guān)量輸入模塊進行自動同時校驗；FPGA用于和自動測試平臺通訊，接收所需數(shù)據(jù)和狀態(tài)參數(shù)，控制開關(guān)量輸出通道進行同時校驗以及與微處理器交換數(shù)據(jù)；微處理器負責處理和控制，完成開關(guān)量信息的輸出。本實用新型可以實現(xiàn)對被測試電路的開關(guān)量輸入模塊進行自動同時檢測，提高了測試的自動化水平、工作效率和測試精度，降低了人工成本。