一種動態(tài)隨機存儲器的測試方法及存儲介質(zhì)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111609610.8 申請日 -
公開（公告）號 CN114446374A 公開（公告）日 2022-05-06
申請公布號 CN114446374A 申請公布日 2022-05-06
分類號 G11C29/32（2006.01）I;G11C29/44（2006.01）I 分類 信息存儲;
發(fā)明人 劉孜 申請（專利權(quán)）人 深圳市晶存科技有限公司
代理機構(gòu) 廣州嘉權(quán)專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 代理人 俞梁清
地址 518048廣東省深圳市福田區(qū)福保街道福保社區(qū)桃花路1-3號達升大樓2層FB區(qū)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種動態(tài)隨機存儲器的測試方法及存儲介質(zhì)，該方法包括將動態(tài)隨機存儲器的存儲空間劃分成至少兩個測試單元；獲取用于測試的多個背景數(shù)據(jù)；對于每個背景數(shù)據(jù)，將背景數(shù)據(jù)寫入動態(tài)隨機存儲器的存儲空間后，按照測試單元的地址順序，根據(jù)背景數(shù)據(jù)取反后依次對每個測試單元進行編程校驗，并在編程校驗出錯的情況下記錄當(dāng)前測試單元的出錯信息，立即結(jié)束測試方法，或者，直到遍歷完全部背景數(shù)據(jù)后結(jié)束測試方法。通過本發(fā)明公開的方法，通過不斷修改背景數(shù)據(jù)，讓其相鄰測試單元的數(shù)據(jù)都不相同，加大測試強度，提供故障覆蓋率。能有效篩選出存儲單元出現(xiàn)比特位翻轉(zhuǎn)的顆粒，降低實際場景下老化或者長期使用后的存儲器的不良率。