一種動態(tài)隨機(jī)存儲器的測試方法及系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110329707.7 申請日 -
公開（公告）號 CN113035260A 公開（公告）日 2021-06-25
申請公布號 CN113035260A 申請公布日 2021-06-25
分類號 G11C29/36;G11C29/38;G11C29/56 分類 信息存儲;
發(fā)明人 盧浩 申請（專利權(quán)）人 深圳市晶存科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳市諾正鑫澤知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 彭佳偉
地址 518000 廣東省深圳市福田區(qū)福保街道福保社區(qū)桃花路1-3號達(dá)升大樓2層FB區(qū)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種動態(tài)隨機(jī)存儲器的測試方法及系統(tǒng)，具體包括以下步驟：步驟一、準(zhǔn)備操作；步驟二、數(shù)據(jù)測試；步驟三、問題診斷；步驟四、中值選定；步驟五、問題定位；步驟六、展示記錄；本發(fā)明涉及存儲器測試技術(shù)領(lǐng)域。該動態(tài)隨機(jī)存儲器的測試方法及系統(tǒng)，通過劃分出N個測試單元模塊，并按照順序?qū)⒊跏即鎯π畔鬟f到下一個測試單元模塊中，所以只需要比較第N個單元數(shù)據(jù)與第一個單元寫入的數(shù)據(jù)是否一致，就可以判斷該存儲器的數(shù)據(jù)是否有損壞，而不需要比較全部的單元，并且采用讀取N?1單元模塊數(shù)據(jù)到N單元模塊內(nèi)的存儲方式能提高測試速度，這樣不僅可以縮短測試時間，提高測試產(chǎn)能，還可以有效降低測試成本。