芯片測試方法、驗證系統(tǒng)及存儲介質(zhì)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201911298175.4 申請日 -
公開（公告）號 CN111045880A 公開（公告）日 2020-04-21
申請公布號 CN111045880A 申請公布日 2020-04-21
分類號 G06F11/22 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 夏一民;徐雪剛;羅恒;劉蓬俠;王磊;龔國輝;張曉明 申請（專利權(quán)）人 湖南長城銀河科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 長沙正奇專利事務(wù)所有限責(zé)任公司 代理人 湖南長城銀河科技有限公司
地址 410205 湖南省長沙市長沙高新開發(fā)區(qū)尖山路39號長沙中電軟件園總部大樓裙樓2-8、2-13室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種芯片測試方法、驗證系統(tǒng)及存儲介質(zhì)，該方法的測試程序內(nèi)含若干個用例模板和一個測試控制器，能在測試過程中動態(tài)產(chǎn)生測試用例，使得測試程序的每次執(zhí)行，都能實現(xiàn)多輪測試，從而提高了測試效率，其中用例模板是由一系列待測試指令、該指令執(zhí)行條件、操作數(shù)取值范圍組成的序列，測試控制器是用例模板的選取規(guī)則、用例生成規(guī)則和測試終止條件組成，它在測試過程中，根據(jù)用例模板的內(nèi)容，不斷產(chǎn)生新的測試用例并實施測試，直到測試終止條件被完全滿足，測試終止。