芯片測(cè)試方法、驗(yàn)證系統(tǒng)及存儲(chǔ)介質(zhì)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201911298175.4 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN111045880A 公開（公告）日 2020-04-21
申請(qǐng)公布號(hào) CN111045880A 申請(qǐng)公布日 2020-04-21
分類號(hào) G06F11/22 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 夏一民;徐雪剛;羅恒;劉蓬俠;王磊;龔國(guó)輝;張曉明 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 湖南長(zhǎng)城銀河科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 長(zhǎng)沙正奇專利事務(wù)所有限責(zé)任公司 代理人 湖南長(zhǎng)城銀河科技有限公司
地址 410205 湖南省長(zhǎng)沙市長(zhǎng)沙高新開發(fā)區(qū)尖山路39號(hào)長(zhǎng)沙中電軟件園總部大樓裙樓2-8、2-13室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種芯片測(cè)試方法、驗(yàn)證系統(tǒng)及存儲(chǔ)介質(zhì)，該方法的測(cè)試程序內(nèi)含若干個(gè)用例模板和一個(gè)測(cè)試控制器，能在測(cè)試過程中動(dòng)態(tài)產(chǎn)生測(cè)試用例，使得測(cè)試程序的每次執(zhí)行，都能實(shí)現(xiàn)多輪測(cè)試，從而提高了測(cè)試效率，其中用例模板是由一系列待測(cè)試指令、該指令執(zhí)行條件、操作數(shù)取值范圍組成的序列，測(cè)試控制器是用例模板的選取規(guī)則、用例生成規(guī)則和測(cè)試終止條件組成，它在測(cè)試過程中，根據(jù)用例模板的內(nèi)容，不斷產(chǎn)生新的測(cè)試用例并實(shí)施測(cè)試，直到測(cè)試終止條件被完全滿足，測(cè)試終止。