一種適用于升溫內(nèi)阻法測閉孔溫度及破膜溫度的容器裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202122181944.1 申請日 -
公開（公告）號 CN215641734U 公開（公告）日 2022-01-25
申請公布號 CN215641734U 申請公布日 2022-01-25
分類號 G01R31/389（2019.01）I;H01M50/40（2021.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 莊志;李昀澤;鮑晉珍;王迎利;李曉晨;王長宗;史新宇;周泉清;冶成良;程躍 申請（專利權(quán)）人 上海恩捷新材料科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海遠(yuǎn)同律師事務(wù)所 代理人 張堅
地址 201306上海市浦東新區(qū)南蘆公路155號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型提供一種適用于升溫內(nèi)阻法測閉孔溫度及破膜溫度的容器裝置，該裝置不需要使用密封圈對隔膜進(jìn)行固定，依靠裝置部件本身的重力作用固定待測隔膜，待測隔膜邊緣收力較小，且使用該裝置進(jìn)行測試時隔膜兩側(cè)充滿電解液，能保證隔膜的浸潤性，從而保證測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性與穩(wěn)定性，且該裝置在測試時線路連接簡單，使用方便，也更容易進(jìn)行清潔工作。