用于磁力計的校準(zhǔn)系統(tǒng)和方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010753611.9 申請日 -
公開（公告）號 CN112834973A 公開（公告）日 2021-05-25
申請公布號 CN112834973A 申請公布日 2021-05-25
分類號 G01R35/00;G01R33/00 分類 測量；測試;
發(fā)明人 王帆;卓彥;楊思嘉;吳順子 申請（專利權(quán)）人 中科知影（北京）科技有限公司
代理機構(gòu) 北京市柳沈律師事務(wù)所 代理人 王冉
地址 100080 北京市海淀區(qū)海淀西大街70號三層301室067號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種用于磁力計的校準(zhǔn)系統(tǒng)和方法、磁探測系統(tǒng)和方法、磁力計支架。所述校準(zhǔn)系統(tǒng)包括：磁力計，配置為測量待測磁場；磁力計支架，所述磁力計固定安裝在所述磁力計支架上，以使所述磁力計的空間位置和取向已知；至少一個磁場發(fā)生裝置，相對于所述磁力計的位置固定，用于在所述待測空間中產(chǎn)生校準(zhǔn)磁場分布；以及計算裝置，所述計算裝置配置成根據(jù)所述至少一個磁場發(fā)生裝置在所述待測空間內(nèi)產(chǎn)生的校準(zhǔn)磁場分布計算在磁力計所處位置處的磁場矢量大小，從所述磁力計接收所述磁力計測得的磁場矢量大小，以及基于所述計算獲得的磁場矢量大小和測得的磁場矢量大小計算所述磁力計的探測增益值。