全內(nèi)反射檢測基因芯片雜交結(jié)果的方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110541260.X 申請日 -
公開（公告）號 CN112964688B 公開（公告）日 2021-08-24
申請公布號 CN112964688B 申請公布日 2021-08-24
分類號 G01N21/64;G01N21/01 分類 測量；測試;
發(fā)明人 華子昂;劉寶全;竹添;朱美瑛;萬君興;張建;李娜 申請（專利權(quán)）人 北京百奧納芯生物科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京國謙專利代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 肖應(yīng)國
地址 100176 北京市大興區(qū)北京經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)經(jīng)海四路25號10號樓104單元2層2119室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種全內(nèi)反射檢測基因芯片雜交結(jié)果的方法，包括：構(gòu)造基因芯片檢測儀，利用石英玻璃板（2）將基因芯片檢測儀的暗箱（1）分為光源暗箱（3）與成像暗箱（16）；在石英玻璃板（2）上添加與石英玻璃的折射率相同的等折射率溶液（9）；將基因芯片的石英玻璃基片放置在等折射率溶液（9）上；調(diào)整面平行光光源發(fā)生器（6）的位置和角度，使得發(fā)出的面平行光形成全內(nèi)反射；全內(nèi)反射的隱失波（11）激發(fā)基因芯片的探針（12）上的熒光物質(zhì)發(fā)出標(biāo)記熒光（13）；標(biāo)記熒光（13）被高分辨率相機(jī)（15）捕獲，最終獲得檢測結(jié)果。本發(fā)明的方法避免了熒光成像過程中的背景干擾，提高了基因芯片雜交結(jié)果的信噪比和檢測靈敏度。