用于DSP芯片電路可靠性的自動(dòng)上下電測(cè)試系統(tǒng)及方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202111241894.X 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN113866611A 公開（公告）日 2021-12-31
申請(qǐng)公布號(hào) CN113866611A 申請(qǐng)公布日 2021-12-31
分類號(hào) G01R31/28（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 范松;馬維超;易峰;劉律輯 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 湖南進(jìn)芯電子科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 長(zhǎng)沙軒榮專利代理有限公司 代理人 叢詩(shī)洋
地址 410000湖南省長(zhǎng)沙市長(zhǎng)沙高新開發(fā)區(qū)尖山路39號(hào)長(zhǎng)沙中電軟件園總部大樓10樓1002-1010室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種用于DSP芯片電路可靠性的自動(dòng)上下電測(cè)試系統(tǒng)及方法，包括：步驟1，在PC上設(shè)定上下電測(cè)試條件，其中，上下電測(cè)試信息包括電源域數(shù)量、各電源域電壓、額定電流、各DSP芯片的上下電順序和上下電測(cè)試次數(shù)；步驟2，PC通過RS232接口給可編程電源發(fā)送控制信號(hào)，可編程電源根據(jù)控制信號(hào)分別給HTOL底板的各個(gè)通道提供電壓。本發(fā)明通過PC可以對(duì)測(cè)試系統(tǒng)上下電測(cè)試次數(shù)、上電成功次數(shù)和上電失敗次數(shù)等進(jìn)行監(jiān)測(cè)，通用性強(qiáng)，對(duì)于不同電源域，不同上電順序的DSP芯片，只需在PC上修改上下電測(cè)試條件，節(jié)約成本，可以在常溫、低溫和高溫檢測(cè)測(cè)試系統(tǒng)是否存在異常情況。