一種結(jié)構(gòu)光測量系統(tǒng)高精度校準方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010534367.7 申請日 -
公開（公告）號 CN111649696A 公開（公告）日 2021-07-06
申請公布號 CN111649696A 申請公布日 2021-07-06
分類號 G01B11/25 分類 測量；測試;
發(fā)明人 溫捷文 申請（專利權(quán)）人 珠海博明傳感器技術(shù)有限公司
代理機構(gòu) 北京華際知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 鄧大文
地址 519000 廣東省珠海市高新區(qū)唐家灣鎮(zhèn)軟件園街（路）1號生產(chǎn)加工中心5#一層8單元B區(qū)04-06室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種結(jié)構(gòu)光測量系統(tǒng)高精度校準方法，本方法通過投影裝置向被測量物體表面發(fā)出投射光，所述投射光通過光柵條紋投射到被測量物體上，通過線性亮度平衡方法在投影裝置發(fā)出透射光之前對投射光進行線性亮度平衡；圖像采集裝置采集被測量物體表面的投射光，形成投射光圖像，在形成投射光圖像時，對投射光產(chǎn)生的正弦條紋進行補償，形成理想正弦條紋；對投射光圖像進行解調(diào)得到被測量物體的三維信息，使用擬合平面替代原基底相位的方法用擬合平面替代原基底平面，實現(xiàn)高精度成像，周期對投影過程中產(chǎn)生的投影條紋均勻性不好、條紋存在初次噪聲和基底相位不平問題進行解決，該方法有效地提高了結(jié)構(gòu)光檢測精度。