一種觸摸屏缺陷檢測(cè)系統(tǒng)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201610098339.9 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN105676053B 公開（公告）日 2018-09-25
申請(qǐng)公布號(hào) CN105676053B 申請(qǐng)公布日 2018-09-25
分類號(hào) G01R31/02 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 程濤;王奇勇;丁俊;朱玉燕 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 上海芯什達(dá)電子技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 200000 上海市浦東新區(qū)自由貿(mào)易試驗(yàn)區(qū)郭守敬路351號(hào)2號(hào)樓A662-10室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種觸摸屏缺陷檢測(cè)系統(tǒng)，該觸摸屏檢測(cè)系統(tǒng)包括電容轉(zhuǎn)電壓模塊CV、電阻轉(zhuǎn)電壓模塊RV、模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊ADC和DSP&MCU模塊，所述模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊ADC一端分別連接電容轉(zhuǎn)電壓模塊CV和電阻轉(zhuǎn)電壓模塊RV，另一端連接所述DSP&MCU模塊，所述電容轉(zhuǎn)電壓模塊CV用于將觸摸屏上傳感器通道的數(shù)個(gè)到地寄生電容的電容轉(zhuǎn)化為電壓，電阻轉(zhuǎn)電壓模塊RV用于將觸摸屏上傳感器通道的數(shù)個(gè)到地寄生電容的電阻轉(zhuǎn)化為電壓，所述DSP&MCU模塊用于控制電容轉(zhuǎn)電壓模塊CV、電阻轉(zhuǎn)電壓模塊RV以及處理模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊ADC的輸出結(jié)果。本發(fā)明的方案不需要額外增加硬件成本，利用觸控芯片本身即可完成觸摸屏模組的缺陷的檢測(cè)；本發(fā)明的方案的測(cè)試過程完成實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化，測(cè)試效率高，測(cè)試可靠性高。