用于透明或半透明材料曲面的測量系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201880098407.9 申請日 -
公開（公告）號 CN112840175A 公開（公告）日 2021-05-25
申請公布號 CN112840175A 申請公布日 2021-05-25
分類號 G01B11/00;G01N21/95 分類 測量；測試;
發(fā)明人 向賢毅;吳明軍 申請（專利權(quán)）人 成都頻泰鼎豐企業(yè)管理中心（有限合伙）
代理機構(gòu) 北京鍾維聯(lián)合知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 趙中璋
地址 610015 四川省成都市高新區(qū)吉泰五路88號3幢28層7號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種用于透明或半透明材料曲面的測量系統(tǒng)（1），包括：表面處理裝置（10）、三維測量裝置（20）和第二傳送裝置；表面處理裝置（10）用于對透明或半透明材料的表面進行霜化或霧化，形成霜化或霧化表面，即在透明或半透明材料的表面形成均勻的霜或霧；三維測量裝置（20）用于對霜化或霧化后的透明或半透明材料的表面進行三維測量，從而獲取測量數(shù)據(jù)；第二傳送裝置用于將表面霜化或霧化后的材料傳送到三維測量裝置（20）。