全自動AOI檢測設(shè)備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201710436363.3 申請日 -
公開（公告）號 CN107202794A 公開（公告）日 2017-09-26
申請公布號 CN107202794A 申請公布日 2017-09-26
分類號 G01N21/88(2006.01)I;G01N21/84(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張方德 申請（專利權(quán)）人 浙江歐威科技有限公司
代理機構(gòu) 溫州金甌專利事務(wù)所（普通合伙） 代理人 陳暉
地址 325025 浙江省溫州市海洋科技創(chuàng)業(yè)園C2幢4層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種全自動AOI檢測設(shè)備，其包括框架，在所述框架上設(shè)置光學(xué)檢測機構(gòu)，光學(xué)檢測機構(gòu)包括至少兩組傳送帶，在傳送帶的上下側(cè)之間設(shè)置可升降的檢測平臺，所述檢測平臺上方設(shè)置光學(xué)成像裝置，所述檢測平臺上對應(yīng)設(shè)有至少兩個凹槽，所述檢測平臺具有下降后與傳送帶不接觸的第一位置以及上升將傳送帶置于凹槽內(nèi)且與傳送帶上的PCB板接觸的第二位置，采用傳送帶傳送的方式輸送PCB板，而在進入檢測平臺的范圍時，通過平臺的上升來使得PCB板脫離傳送帶，直接置于所述平臺上，保證在光學(xué)掃描時，該板不會出現(xiàn)抖動、晃動等現(xiàn)象，從而影響光學(xué)掃描的精準(zhǔn)性，且采用該方式，可以省去對光學(xué)成像的清晰度分析的算法設(shè)計。