一種紙張褶皺缺陷檢測方法及裝置
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201911393094.2 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN111145163B | 公開(公告)日 | 2021-04-02 |
申請公布號 | CN111145163B | 申請公布日 | 2021-04-02 |
分類號 | G06T7/00(2017.01)I;G06T7/62(2017.01)I | 分類 | 計(jì)算;推算;計(jì)數(shù); |
發(fā)明人 | 張洋;付茂栗;趙偉君;夏小東;張紹兵;阮波;李騰蛟;羅杰 | 申請(專利權(quán))人 | 深圳市中鈔科信金融科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 深圳市深軟翰琪知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 吳雅麗 |
地址 | 518000廣東省深圳市福田區(qū)彩田路西中銀花園辦公樓A棟9B | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開一種紙張褶皺缺陷檢測方法及裝置,該方法包括:獲取待檢測圖像和待訓(xùn)練圖像;對待檢測圖像和待訓(xùn)練圖像進(jìn)行預(yù)處理,以提取出待檢測圖像的紙區(qū)圖像范圍以及待訓(xùn)練圖像的紙區(qū)圖像范圍;采用預(yù)設(shè)的檢測模型及其訓(xùn)練好的模型參數(shù),計(jì)算當(dāng)前待檢測圖像的紙區(qū)圖像范圍的每個(gè)像素點(diǎn)分類,并分析每個(gè)像素點(diǎn)是褶皺的概率值,根據(jù)所得的每個(gè)像素點(diǎn)是褶皺的概率值來獲得褶皺區(qū)域;其中,檢測模型包括特征圖,該特征圖的每個(gè)像素值定義為標(biāo)識該像素是否是褶皺的概率值。本申請的上述紙張褶皺缺陷檢測方法,通過采用逐個(gè)像素進(jìn)行分類,具有漏檢風(fēng)險(xiǎn)極低的優(yōu)勢,同時(shí)具有較高的檢測精度和在線檢測實(shí)時(shí)性。?? |
