一種晶片強(qiáng)度檢測裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201521026876.X 申請日 -
公開（公告）號 CN205209888U 公開（公告）日 2016-05-04
申請公布號 CN205209888U 申請公布日 2016-05-04
分類號 G01N3/08(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 許春杰;謝保衛(wèi) 申請（專利權(quán)）人 江蘇潤麗光能科技發(fā)展有限公司
代理機(jī)構(gòu) 蘇州市方略專利代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 馬廣旭
地址 221000 江蘇省徐州市沛屯大道西側(cè)能源開發(fā)區(qū)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型涉及一種晶片強(qiáng)度檢測裝置，包括檢測臺，檢測臺設(shè)有檢測槽；檢測臺設(shè)有支撐桿，支撐桿的端部設(shè)有限位板，限位板的下方設(shè)有鎖片，限位板之間設(shè)有扣桿，導(dǎo)向管內(nèi)套裝有壓管，導(dǎo)向管的下端設(shè)有旋管，旋管與壓管通過螺紋連接，壓管的下端設(shè)有壓頭，檢測臺上設(shè)有壓力傳感片，壓力傳感片設(shè)置在鎖片的下方，壓力傳感片與壓力檢測器連接。本實用新型方便對壓頭進(jìn)行升降控制，通過壓頭方便對晶片進(jìn)行壓破，從而方便對晶片強(qiáng)度進(jìn)行檢測。