一種利用紅外熱成像識別基材與臟污的方法及裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110306827.5 申請日 -
公開（公告）號 CN113008936A 公開（公告）日 2021-06-22
申請公布號 CN113008936A 申請公布日 2021-06-22
分類號 G01N25/20;G01N25/72 分類 測量；測試;
發(fā)明人 代小權(quán);林開程;張正鋒;鄧亞飛 申請（專利權(quán)）人 深圳市梯易易智能科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳市卓科知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 趙輝麗;任平
地址 518000 廣東省深圳市福田區(qū)沙頭街道天安社區(qū)泰然六路泰然科技園213棟五層C區(qū)505
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種利用紅外熱成像識別基材與臟污的方法及裝置，包括透射式曝光熱成像裝置；透射式曝光熱成像裝置包括熱成像相機(jī)、熱紅外鏡頭、熱成像拍攝區(qū)、假缺陷、真缺陷、待檢基材、基材托架、紅外截止慮光片、LED燈板以及散熱塊；散熱塊上表面設(shè)置燈板；LED燈板上表面設(shè)置紅外截止慮光片；紅外截止慮光片兩側(cè)安裝基材托架，并在基材托架內(nèi)安裝待檢基材；待檢基材上端安裝熱成像相機(jī)，并在熱成像相機(jī)一側(cè)安裝熱紅外鏡頭；熱紅外鏡頭與熱成像拍攝區(qū)的位置相對應(yīng)；熱成像拍攝區(qū)覆蓋假缺陷和真缺陷；本發(fā)明利用特殊加熱裝置和熱成像技術(shù)，有效的將附著在基材上的臟污和基材本身真缺陷區(qū)分開來。