一種芯片測試方法及裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011508032.4 申請日 -
公開（公告）號 CN112684321A 公開（公告）日 2021-04-20
申請公布號 CN112684321A 申請公布日 2021-04-20
分類號 G01R31/28(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 金羅軍;吳臻志 申請（專利權(quán)）人 無錫靈汐類腦科技有限公司
代理機構(gòu) 北京麥寶利知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 趙艷紅
地址 214000江蘇省無錫市新吳區(qū)凈慧東道78號中電?？禑o錫物聯(lián)網(wǎng)產(chǎn)業(yè)基地會議中心202-03
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種芯片測試方法及裝置。所述芯片測試方法，包括：通過芯片自帶的處理功能對待測樣本進行處理，得到處理后的結(jié)果樣本；將所述芯片中預(yù)設(shè)的預(yù)期結(jié)果樣本和所述結(jié)果樣本進行對比；根據(jù)對比的結(jié)果，分析出所述處理功能的測試結(jié)果。本發(fā)明在沒有處理功能對應(yīng)的引腳的情況下，快速便捷的測試該芯片自帶的各個處理功能，并可根據(jù)測試結(jié)果直接定位出現(xiàn)故障的處理功能。??