離子型稀土礦底板勘查方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201810052335.6 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN108241180B 公開（公告）日 2020-03-20
申請(qǐng)公布號(hào) CN108241180B 申請(qǐng)公布日 2020-03-20
分類號(hào) G01V11/00;G01N33/24 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 王炯輝;陳道貴;王浩然;趙彬;高玉文 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 五礦勘查開發(fā)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京鼎承知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 五礦勘查開發(fā)有限公司
地址 100044 北京市海淀區(qū)三里河路5號(hào)院D座二層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本公開提供一種離子型稀土礦底板勘查方法，包括以下步驟：S1根據(jù)稀土賦存條件和分布情況，確定原地浸礦區(qū)塊和底板勘查范圍；S2在所述底板勘查范圍內(nèi)，采用機(jī)械鉆探獲取巖心，采集全風(fēng)化殼、半風(fēng)化殼和基巖的物理性質(zhì)參數(shù)；S3在所述底板勘查范圍內(nèi)設(shè)置測(cè)量點(diǎn)，使用探地雷達(dá)和抗干擾高密度電法，采集所述測(cè)量點(diǎn)的全風(fēng)化殼、半風(fēng)化殼和基巖巖層的數(shù)據(jù)信息；S4處理所述數(shù)據(jù)信息，顯示剖面圖像，劃分所述測(cè)量點(diǎn)的巖層層位并計(jì)算各層位厚度；S5在所述剖面圖像上進(jìn)行解譯和反演，結(jié)合各巖層物理性質(zhì)和剖面圖像特征評(píng)價(jià)各巖層裂隙發(fā)育情況、密實(shí)度和巖層含水量；S6根據(jù)解譯和反演的數(shù)據(jù)結(jié)果進(jìn)行三維建模，對(duì)稀土礦底板進(jìn)行清晰直觀地顯示。