一種多普勒雷達(dá)芯片驗(yàn)證方法及裝置
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201910790307.9 | 申請日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN110501681A | 公開(公告)日 | 2019-11-26 |
申請公布號(hào) | CN110501681A | 申請公布日 | 2019-11-26 |
分類號(hào) | G01S7/40(2006.01) | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 李秀萍; 楊農(nóng)軍; 張家奇 | 申請(專利權(quán))人 | 許昌富奧星智能科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京怡豐知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 許昌富奧星智能科技有限公司 |
地址 | 461000 河南省許昌市建安區(qū)尚集鎮(zhèn)芙蓉大道金融大廈十樓1006室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明提供一種多普勒雷達(dá)芯片驗(yàn)證方法及裝置,其解決了現(xiàn)有多普勒雷達(dá)芯片驗(yàn)證過程中,驗(yàn)證成本高、效率低、測試系統(tǒng)可移植性較差、測試用例的可重用性較低的技術(shù)問題。其設(shè)有測試機(jī)臺(tái)、運(yùn)動(dòng)目標(biāo),還設(shè)有射頻天線、射頻開關(guān)、控制電路,控制電路與射頻開關(guān)電連接,控制電路與測試機(jī)臺(tái)電連接,射頻開關(guān)與射頻天線電連接。本發(fā)明可廣泛應(yīng)用于芯片的檢測中。 |
