一種電阻抗測(cè)試方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201310137971.6 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN103235190A 公開（公告）日 2013-08-07
申請(qǐng)公布號(hào) CN103235190A 申請(qǐng)公布日 2013-08-07
分類號(hào) G01R27/14(2006.01)I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 冉鵬;何為;肖曉明 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 中國(guó)農(nóng)業(yè)銀行股份有限公司重慶渝北支行
代理機(jī)構(gòu) 北京同恒源知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 何為;重慶金山科技（集團(tuán)）有限公司
地址 400030 重慶市沙坪壩區(qū)松林村92-3-3
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種電阻抗測(cè)試方法，包括信號(hào)生成處理裝置、激勵(lì)信號(hào)輸出探頭和反饋信號(hào)接收探頭；具體測(cè)試步驟為：1）初步測(cè)量；2）判斷是否需要精確測(cè)量；3）精確測(cè)量；4）輸出三維空間電阻抗圖像。本發(fā)明在操作人員確定了被測(cè)物體的初步測(cè)量區(qū)域后，對(duì)被測(cè)物體進(jìn)行初步測(cè)量，初步測(cè)量的測(cè)試點(diǎn)多少由操作人員確定，根據(jù)測(cè)試結(jié)果生成導(dǎo)電率三維圖像；操作人員對(duì)三維圖像進(jìn)行判斷，確定精確測(cè)量的成像區(qū)域，確定精確測(cè)量過(guò)程中的測(cè)試點(diǎn)數(shù)和測(cè)試點(diǎn)分布區(qū)域，再依次讀取測(cè)試點(diǎn)的數(shù)據(jù)，生成精確測(cè)量的三維圖像。根據(jù)需要，可以多次重新確定測(cè)量區(qū)域，確定每次測(cè)量的方式，適用性更強(qiáng)。本發(fā)明探頭不受固有模型的限制，可以與待測(cè)物體更好的貼合。