一種抗振型激光標靶、盾構機位姿測量系統(tǒng)及測量方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010649631.1 申請日 -
公開(公告)號 CN111765878A 公開(公告)日 2020-10-13
申請公布號 CN111765878A 申請公布日 2020-10-13
分類號 G01C15/02(2006.01)I 分類 測量;測試;
發(fā)明人 張曉日;杜文陽;趙旭曄;劉孟健 申請(專利權)人 天津恒度量子精密儀器技術有限公司
代理機構 上海碩力知識產(chǎn)權代理事務所(普通合伙) 代理人 董磊
地址 201203上海市浦東新區(qū)中國(上海)自由貿(mào)易試驗區(qū)芳春路400號1幢3層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種抗振型激光標靶、盾構機位姿測量系統(tǒng)及測量方法,所述盾構機位姿測量方法包括:通過角度采集單元以大于或等于第一預設頻率的頻率采集盾構機的第一角度數(shù)據(jù);基于濾波算法對所述第一角度數(shù)據(jù)進行濾波處理,以生成第二角度數(shù)據(jù);以及基于所述第二角度數(shù)據(jù)和全站儀所采集的全站儀數(shù)據(jù),確定所述盾構機的位姿。其能夠降低盾構機位姿測量過程中盾構機的振動對測量結果的影響,提高盾構機位姿的測量精度。??