電壓的采樣方法及采樣電路

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111169131.9 申請日 -
公開（公告）號 CN114137292A 公開（公告）日 2022-03-04
申請公布號 CN114137292A 申請公布日 2022-03-04
分類號 G01R19/25（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 李學(xué);徐向宇;曹沛;江銳 申請（專利權(quán)）人 北京科益虹源光電技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京融智邦達(dá)知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 吳強(qiáng)
地址 100176北京市通州區(qū)經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)經(jīng)海四路156號10號樓二層201
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請實(shí)施例提供一種電壓的采樣方法及采樣電路。在本申請實(shí)施例中，在待采樣電壓以及零電位之間串聯(lián)第一分壓電阻陣列以及第二分壓電阻陣列，通過第一分壓電阻陣列以及第二分壓電阻陣列之間的連接點(diǎn)采集對應(yīng)的第一分壓電壓；對第一分壓電壓進(jìn)行預(yù)置處理，得到處理后的第一分壓電壓；根據(jù)第一分壓電阻陣列以及第二分壓電阻陣列之間的電阻比例、以及處理后的第一分壓電壓，確定待采樣電壓；使得不但可以進(jìn)行電壓的采樣，同時還可以有效避免單個電阻出現(xiàn)極端故障時，高壓電會傳入低壓電路從而造成人身傷害的情況。