一種對(duì)于材料微區(qū)的吸收光譜檢測(cè)裝置及檢測(cè)方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202011491156.6 申請(qǐng)日 -
公開(公告)號(hào) CN112611746A 公開(公告)日 2021-04-06
申請(qǐng)公布號(hào) CN112611746A 申請(qǐng)公布日 2021-04-06
分類號(hào) G01N21/71(2006.01)I;G01J5/00(2006.01)I 分類 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 張健;陳堅(jiān);周海峰;吳周令 申請(qǐng)(專利權(quán))人 合肥利弗莫爾儀器科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 合肥天明專利事務(wù)所(普通合伙) 代理人 韓燕
地址 230031安徽省合肥市高新區(qū)望江西路800號(hào)創(chuàng)新產(chǎn)業(yè)園C4樓206室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種對(duì)于材料微區(qū)的吸收光譜檢測(cè)裝置及檢測(cè)方法,吸收光譜檢測(cè)裝置包括有泵浦光源、紅外空間濾波裝置、紅外鏡頭、紅外信號(hào)探測(cè)裝置和鎖相放大器,紅外鏡頭連接于紅外信號(hào)探測(cè)裝置上,泵浦光源和紅外鏡頭均朝向待測(cè)樣品的表面,紅外空間濾波裝置位于待測(cè)樣品和紅外鏡頭之間,紅外信號(hào)探測(cè)裝置的輸出端與鎖相放大器連接。本發(fā)明基于光熱弱吸收測(cè)量技術(shù)和鎖相紅外探測(cè)技術(shù),可以直接測(cè)量樣品的吸收光譜,克服了通過測(cè)量樣品的反射率與透過率而間接測(cè)量弱吸收率的問題和材料吸收率檢測(cè)靈敏度低的問題。??