一種物品質(zhì)量厚度檢測方法及物品質(zhì)量厚度檢測裝置
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN201910566262.7 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN110231005B | 公開（公告）日 | 2021-04-13 |
| 申請公布號 | CN110231005B | 申請公布日 | 2021-04-13 |
| 分類號 | G01N23/04(2018.01)I;G01B15/02(2006.01)I;G01N23/02(2006.01)I | 分類 | 測量；測試; |
| 發(fā)明人 | 韓志偉;楊光;覃懷莉;溫燕杰;史浩;鄺山;梁愛鳳;劉燕琴 | 申請（專利權(quán)）人 | 同威信達(dá)技術(shù)（江蘇）股份有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 南京蘇科專利代理有限責(zé)任公司 | 代理人 | 陳棟智 |
| 地址 | 213200江蘇省常州市金壇區(qū)晨風(fēng)路1036號 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明公開了輻照加工領(lǐng)域內(nèi)的一種物品質(zhì)量厚度檢測方法及物品質(zhì)量厚度檢測裝置，包括以下步驟：步驟1，構(gòu)建物品質(zhì)量厚度初始模型，初始模型包括與多種物質(zhì)一一對應(yīng)的多條理論曲線，每條所述理論曲線對應(yīng)于一種物質(zhì)的低能值與質(zhì)量厚度理論值的映射關(guān)系；步驟2，構(gòu)建物品質(zhì)量厚度標(biāo)準(zhǔn)模型，通過校正組件將多條理論曲線校正為多條標(biāo)準(zhǔn)曲線，形成標(biāo)準(zhǔn)模型；步驟3，通過待測物的檢測低能值、檢測高能值及物質(zhì)分類模型的映射關(guān)系得到待測物的物質(zhì)種類；能夠得到待測物更加準(zhǔn)確的質(zhì)量厚度，更方便輻照加工中輻照劑量、輻照時(shí)間等參數(shù)的合理配置，提高生產(chǎn)效率，本發(fā)明可以用于物品質(zhì)量厚度的檢測。?? |
