一種性能瓶頸定位量化方法、裝置及嵌入式IO系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201710325195.0 申請日 -
公開（公告）號 CN108874613B 公開（公告）日 2021-11-05
申請公布號 CN108874613B 申請公布日 2021-11-05
分類號 G06F11/30（2006.01）I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 張濤 申請（專利權(quán)）人 鴻秦（北京）科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 濟(jì)南圣達(dá)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 張勇
地址 100085北京市海淀區(qū)上地九街?jǐn)?shù)碼科技廣場北區(qū)二層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種性能瓶頸定位量化方法、裝置及嵌入式IO系統(tǒng)，所述嵌入式IO系統(tǒng)包括至少一個(gè)CPU和硬件IO，CPU與硬件IO通過系統(tǒng)總線共享存儲器和定時(shí)器，該性能瓶頸定位量化方法包括：通過固件采集定時(shí)器中的CPU時(shí)間和IO時(shí)間，得到整個(gè)嵌入式IO系統(tǒng)在一段時(shí)間內(nèi)的耗時(shí)統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)；在上位機(jī)中根據(jù)耗時(shí)統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)得到CPU時(shí)間及IO時(shí)間的時(shí)間軸關(guān)系，通過時(shí)間軸關(guān)系直觀反映嵌入式IO系統(tǒng)性能瓶頸的位置和原因，對嵌入式IO系統(tǒng)進(jìn)行性能優(yōu)化。