紅外圖像非均勻性校正方法及裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201610076610.9 申請日 -
公開（公告）號 CN105716720B 公開（公告）日 2019-05-31
申請公布號 CN105716720B 申請公布日 2019-05-31
分類號 G01J5/00（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 姜志富 申請（專利權(quán)）人 廣州崇科知識產(chǎn)權(quán)運營有限公司
代理機構(gòu) 北京超凡志成知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 姜志富;廣州崇科知識產(chǎn)權(quán)運營有限公司
地址 732750 甘肅省酒泉市東風(fēng)場區(qū)東風(fēng)0948樓3單元321室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種紅外圖像非均勻性校正方法及裝置，改善了現(xiàn)有技術(shù)中的非均勻校正方式不能很好適應(yīng)儀器非線性響應(yīng)的問題。該裝置應(yīng)用于大口徑紅外成像系統(tǒng)，大口徑紅外成像系統(tǒng)包括鏡頭鏡筒和探測器，裝置包括支架、反射鏡、熱源、光闌和處理器；熱源的輻射光經(jīng)光闌射向反射鏡并經(jīng)反射鏡反射后進入鏡頭鏡筒中，探測器用于對進入鏡頭鏡筒中的輻射光進行檢測；處理器用于得出光闌通光面積S與成像各像元響應(yīng)數(shù)據(jù)yi之間的yi?S關(guān)系曲線，以及與yi?S關(guān)系曲線對應(yīng)的輻射強度H與通光面積S的yi?H關(guān)系曲線，并對yi?H關(guān)系曲線進行校正。該紅外圖像非均勻性校正方法及裝置，可以實現(xiàn)對儀器非線性響應(yīng)的校正，實施方便，易于推廣應(yīng)用。