薄層頂?shù)捉缑娣瓷湎禂?shù)的反演方法及裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201910958234.X 申請日 -
公開（公告）號 CN110764145A 公開（公告）日 2020-02-07
申請公布號 CN110764145A 申請公布日 2020-02-07
分類號 G01V1/30 分類 測量；測試;
發(fā)明人 趙偉;韓必武;王赟;陶磊 申請（專利權(quán)）人 北京多分量地震技術(shù)研究院
代理機(jī)構(gòu) 北京國昊天誠知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 淮南礦業(yè)（集團(tuán)）有限責(zé)任公司;北京多分量地震技術(shù)研究院
地址 232000 安徽省淮南市田家庵區(qū)洞山
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本說明書一個或多個實施例公開了一種薄層頂?shù)捉缑娣瓷湎禂?shù)的反演方法及裝置，用以實現(xiàn)薄層頂?shù)捉缑娣瓷湎禂?shù)的定量預(yù)測。所述方法包括：基于單薄層模型，確定P波垂直入射時的薄層反射系數(shù)能譜；其中，所述薄層反射系數(shù)能譜與薄層頂?shù)捉缑娴姆瓷湎禂?shù)相關(guān)；根據(jù)所述薄層反射系數(shù)能譜，確定所述薄層的時間厚度；根據(jù)所述薄層的時間厚度以及所述薄層反射系數(shù)能譜和所述薄層頂?shù)捉缑娴姆瓷湎禂?shù)之間的關(guān)系，計算所述薄層頂?shù)捉缑娴姆瓷湎禂?shù)。該技術(shù)方案實現(xiàn)了薄層頂?shù)捉缑娣瓷湎禂?shù)的反演，且計算過程簡便快捷。