薄層頂底界面反射系數的反演方法及裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201910958234.X 申請日 -
公開（公告）號 CN110764145B 公開（公告）日 2021-07-23
申請公布號 CN110764145B 申請公布日 2021-07-23
分類號 G01V1/30（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 趙偉;韓必武;王赟;陶磊 申請（專利權）人 北京多分量地震技術研究院
代理機構 北京國昊天誠知識產權代理有限公司 代理人 張黎;許振新
地址 232000安徽省淮南市田家庵區(qū)洞山
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本說明書一個或多個實施例公開了一種薄層頂底界面反射系數的反演方法及裝置，用以實現(xiàn)薄層頂底界面反射系數的定量預測。所述方法包括：基于單薄層模型，確定P波垂直入射時的薄層反射系數能譜；其中，所述薄層反射系數能譜與薄層頂底界面的反射系數相關；根據所述薄層反射系數能譜，確定所述薄層的時間厚度；根據所述薄層的時間厚度以及所述薄層反射系數能譜和所述薄層頂底界面的反射系數之間的關系，計算所述薄層頂底界面的反射系數。該技術方案實現(xiàn)了薄層頂底界面反射系數的反演，且計算過程簡便快捷。