一種磁光克爾儀及其設(shè)計方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN98121930.6 申請日 -
公開（公告）號 CN1213084A 公開（公告）日 1999-04-07
申請公布號 CN1213084A 申請公布日 1999-04-07
分類號 G01R33/032 分類 測量；測試;
發(fā)明人 陳良堯;鄭玉祥;張榮君;夏國強(qiáng);陳岳立;趙海斌;楊月梅 申請（專利權(quán)）人 上海復(fù)旦安正光子網(wǎng)絡(luò)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 復(fù)旦大學(xué)專利事務(wù)所 代理人 姚靜芳
地址 200433上海市邯鄲路220號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 已有的磁光克爾效應(yīng)的測量設(shè)計方法均采用單只探測器,只能對材料的單區(qū)域進(jìn)行單次測量。如要對材料的微區(qū)進(jìn)行高密度的數(shù)據(jù)掃描測量,則測量的效率較低,不易實用。本發(fā)明采用了具有一定像素范圍數(shù)目的CCD探測器,通過旋轉(zhuǎn)檢偏器,在不同檢偏角位置連續(xù)獲得完整的CCD信號,并通過快速富利埃分析,不僅可獲得宏區(qū)的克爾效應(yīng),而且可獲得高分辨率的微區(qū)分布的克爾效應(yīng),形成凝視式磁光克爾圖象。采用本發(fā)明制造的凝視式磁光克爾儀,可提高效率5千至5萬倍,并快速、準(zhǔn)確獲得各種磁結(jié)構(gòu)。