一種磁光克爾儀

基本信息

申請?zhí)?/td> CN98121930.6 申請日 -
公開（公告）號 CN1101003C 公開（公告）日 2003-02-05
申請公布號 CN1101003C 申請公布日 2003-02-05
分類號 G02B27/00 分類 光學(xué);
發(fā)明人 陳良堯;鄭玉祥;張榮君;夏國強(qiáng);陳岳立;趙海斌;楊月梅 申請（專利權(quán)）人 上海復(fù)旦安正光子網(wǎng)絡(luò)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海正旦專利代理有限公司 代理人 姚靜芳
地址 200433上海市邯鄲路220號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 已有的磁光克爾效應(yīng)的測量設(shè)計方法均采用單只探測器，只能對材料的單區(qū)域進(jìn)行單次測量。如要對材料的微區(qū)進(jìn)行高密度的數(shù)據(jù)掃描測量，則測量的效率較低，不易實(shí)用。本發(fā)明采用了具有一定像素范圍數(shù)目的CCD探測器，通過旋轉(zhuǎn)檢偏器，在不同檢偏角位置連續(xù)獲得完整的CCD信號，并通過快速富利埃分析，不僅可獲得宏區(qū)的克爾效應(yīng)，而且可獲得高分辨率的微區(qū)分布的克爾效應(yīng)，形成凝視式磁光克爾圖象。采用本發(fā)明制造的凝視式磁光克爾儀，可提高效率5千至5萬倍，并快速、準(zhǔn)確獲得各種磁結(jié)構(gòu)。